薄膜薄片厚度測定儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！

高精度薄膜厚度測試儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！

接觸式原理厚度測試儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！

GB6672機械接觸式測厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！

薄膜測厚儀適用于：塑料薄膜、薄片、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。注：產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格如有變更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改權(quán)與最終解釋權(quán)！